极简便携拉曼光谱仪
光谱仪、激光器、控制器全内置，插电接电脑即用。分辨率 4~12 cm⁻¹，动态范围 65000:1，IP56 防护，共聚焦光路，支持 OEM 深度定制。
中阶梯光栅光谱仪
采用中阶梯衍射光栅（Echelle Grating）交叉色散设计，在宽谱段范围内实现超高光谱分辨率。适用于 ICP-OES、LIBS 等多元素同时分析。
FX2000 微型光纤光谱仪
通用型光纤光谱仪，采用进口 Richardson 双闪耀光栅和紫外敏化 CCD，消除高阶衍射，灵敏度提升 20%，杂散光降低 50%。
PG4000 高分辨光纤光谱仪
光学分辨率可达 0.1nm（波长分辨率 0.04nm），搭载 EX 双闪耀光栅，1ms 内完成积分时间设定。适用于 LIBS 光谱测量、激光表征等。
NOVA 制冷型光纤光谱仪
采用面阵背照式 CCD 探测器，内置芯片级制冷器，实现 1000:1 超高信噪比。适用于荧光光谱、拉曼光谱等微弱信号检测。
NIR 近红外光纤光谱仪
覆盖 900~2500nm 近红外波段，支持瞬态 1ms 光谱采集，高速高灵敏度。适用于食品、药品等实验室和在线分析领域。
BLAZE 等离子体光谱仪
搭载 CMOS 探测器，0.06nm 高分辨，纳秒级时序精度，4500:1 动态范围，深度适配 LIBS 应用场景。
PG2000-EVO 全波段高灵敏面阵背照式光谱仪
Hamamatsu 面阵背照式 CCD，2048×64 超大感应面，紫外 200nm 量子效率超 70%，动态范围 ≥16000:1，200~1100nm 全波谱均衡灵敏度。
TEMBO-300 高分辨成像光谱仪
0.1nm 典型分辨率，320mm 焦距 f/4.6 大光路，像散校正设计，双入双出，波长重复性 ±0.02nm，适配多种相机和拉曼/瞬态吸收/等离子体检测。
SINO 工业高速光谱仪
名片尺寸紧凑设计，最高 4096 像素、2000f/s 采样速率，灵敏度比 FX2000 提高至 3 倍，温漂 ~0.15pixel/°C，兼容 CMOS/CCD。
ZURO 发射光谱监控光谱仪
半导体刻蚀专用，单帧动态范围突破 40000:1，适配 6/8/12 寸制程，配备 ideaEPD Fab 工艺软件，支持多腔同时监控。
K-Sens 拉曼光谱仪
模块化设计，可升级显微拉曼。采用 On-chip 制冷技术，将 CCD 工作温度降至室温下 40°C，适合微弱光信号检测。
荧光光谱检测系统
基于高灵敏度制冷型光谱仪，搭配优化的激发光源和滤光组件，实现微弱荧光信号的高效采集。适用于荧光标记检测、量子点表征、生物传感等领域。
荧光寿命检测模块
时间相关单光子计数（TCSPC）技术，测量荧光衰减寿命，可集成到显微光谱系统中。适用于纳米材料荧光动力学、FRET 效率测量等研究。
iM1 显微光谱测量系统
2μm 空间分辨率，250~2500nm 宽谱段覆盖。微区定位、定点激发/接收、共轭成像、光路分束。
R1 宏观角分辨光谱仪
智能旋转设计，7 种光谱测量模式。0~360° 变角度测量，覆盖 250~2500nm 宽波谱，适用于微纳光子学、光学薄膜、结构色等研究。
ARMS 显微角分辨光谱系统
首次实现角度 (k) + 空间 (x) + 光谱 (ω) 三重分辨。基于 ARS 角分辨技术，可快速获取样品的各种角分辨光谱。
HY-5010-S 可见近红外显微高光谱成像仪
400-1000nm 波段，光谱分辨率优于 2.3nm，内置扫描设计，支持反射式和透射式两用，空间分辨率优于 1μm。
HY-5010-U 可见近红外显微高光谱成像仪
400-1000nm 波段，光谱分辨率优于 2.8nm，支持 GigE/USB3.0 接口，300 光谱波段，帧频 50/128fps。
HY-6030 近红外显微高光谱成像仪
900-1700nm 近红外波段，InGaAs 制冷探测器，光谱分辨率优于 6nm，512 光谱波段，帧频 175fps。
LuminQY 准费米能级分裂检测系统
针对薄膜光伏电池设计的荧光量子产率检测系统，快速量化 PLQY、QFLS、iVoc、光学 PCE 等关键参数。
QFLSVision™ 准费米能级分裂成像系统
QFLS 成像系统，具备 PLQY/ELQY、QFLS、PCE 成像及 Mapping 能力，可视化展示薄膜均匀性及缺陷分布。
InView-PL 在线原位荧光光谱仪
专为薄膜光伏成膜过程监控设计，≥10Hz 采样速率，实时原位监测 PL/吸收/散射信号。
